EDX-Pocket-Ⅱ能量色散X熒光光譜儀 利用藍牙無線控制，全球首創！ 繼EDX2800風靡整個行業之后，其另一有力搭檔,全球體積最小，重量最輕的EDX-Pocket-Ⅱ應運而生。 流線型的外形，帶給您全新的視覺沖擊；高貴大方的色彩，盡顯尊貴與穩重的獨特魅力；精巧的內核，真正實現科技的濃縮之美；嚴謹的保護裝置，實現安全的防火墻；小巧輕便，將人性化理念落實入微。 EDX-Pocket-Ⅱ是一款專為戶外、大型工程、移動檢測研制開發的全新XRF。只需片刻，它即可實現對RoHS指令中元素的全面測量。這款從醞釀開發都產品問世歷時幾載的全新理念儀器，滿載著天瑞人凝重的智慧和心血。 它是一款真正意義上實現了現場測試的理念儀器，無阻隔，無局限，一切將變得輕松！ ◆◆技術指標: ◆型號：EDX-Pocket-Ⅱ ◆檢測對象：金屬材料、礦石樣品、陶瓷、RoHS檢測等多行業多領域，各種材料中的（Pb、Hg、Br、Cd、Cr） ◆激發源：40KV-銀靶微型X光管 ◆X射線光束直徑：6 mm ◆濾光片：雙濾光片自由切換 ◆檢測時間：一般檢測時間為10s-200s ◆檢測范圍：（S~U）加裝充氦氣裝置可使測試范圍擴大到（Na~U） ◆檢測下限：以塑料樣品為例 Cd：15 ppm ；Pb，Hg：8 ppm； Br：8 ppm ；Cr：25 ppm ◆校正方式：歐盟RoHS塑膠標樣，校正數據 ◆安全性：自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存 ◆使用性：測試數據可導入PC機進行保存打印，配備海量存儲卡 ◆電池使用時間：5小時

Thick 800 Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。 ◆◆技術指標： ◆元素分析范圍：從K到U ◆一次性可同時分析多層鍍層 ◆分析厚度檢測出限最高達0.01um ◆同時可分析多達5層以上鍍層 ◆相互獨立的基體效應校正模型，先進厚度分析方法 ◆多次測量重復性最高可達0.01um ◆長期工作穩定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品） ◆溫度適應范圍：15℃~30℃ ◆輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源） ◆◆配置 ◆開放式樣品腔 ◆二維移動樣品平臺 ◆探測器和X光管上下移動可實現三維移動 ◆雙激光定位裝置 ◆準直器自動切換裝置 ◆玻璃屏蔽罩 ◆正比計數盒探測器 ◆信號檢測電子電路 ◆高低壓電源 ◆X光管 ◆計算機及噴墨打印機 ◆樣品腔尺寸：517mm×352mm×150mm ◆外型尺寸：648mm×490mm×544mm

EDX3000D能量色散X熒光光譜儀 ◆采用國際上先進的由美國生產的半導體制冷的新型探測器，電制冷，無需液氮制冷，可常溫保存，使用方便。同時這款探測器內置信噪比增強器，提高了儀器精度和檢出下限，金屬的有害物質檢出限比原有探測器高出近5倍?？捎糜谕婢甙踩珯z測。 ◆◆技術指標 ◆測量元素:從硫至鈾等 75 種元素 ◆元素含量分析范圍:1ppm-99.99% ◆RoHS 指令規定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br） ◆測量時間: 60-300s ◆能量分辨率為： 155±5eV ◆測量精度: < 0.05% ◆高壓：5-50kV ◆管流：50-1000uA ◆溫度適應范圍： 15-30℃ ◆相對濕度：≤70％ ◆儀器功率：≤90瓦 ◆電源：交流 220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源） ◆超大樣品腔，尺寸Φ450×90mm ◆一次可同時分析24個元素 ◆重量：110kg ◆◆配置 ◆移動樣品平臺 ◆加強的金屬元素感度分析器 ◆放大電路 ◆信噪比增強器（SNE） ◆計算機、噴墨打印機 ◆自動選擇濾光片 ◆多種準直器自動自由切換 ◆三重安全保護模式 ◆相互獨立的基體效應校正模型 ◆多變量非線性回歸程序 ◆樣品腔上蓋自動升降 ◆軟件定位樣品平臺小

EDX2800能量色散X熒光光譜儀 ◆針對RoHS檢測設計開發 ◆測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳 ◆分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ◆提供專業玩具安全檢測,亦可用于測量鍍層厚度和全元素分析 ◆◆ROHS指令檢測主要技術指標 ◆測量元素:從硫至鈾等 75 種元素 ◆元素含量分析范圍:1ppm-99.99% ◆RoHS 指令規定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br） ◆檢測限最高達 1ppm ◆測量時間: 60-300s ◆能量分辨率為： 160±5eV ◆高壓：5-50kV ◆管流：50-1000uA ◆溫度適應范圍： 15-30℃ ◆電源：交流 220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源） ◆重量：60kg ◆自動選擇濾光片 ◆多種準直器自動自由切換 ◆電制冷硅針半導體探測器 ◆加強的金屬元素感度分析器 ◆三重安全保護模式 ◆相互獨立的基體效應校正模型 ◆多變量非線性回歸程序 ◆任意多個可選擇的分析識別模型 ◆一次可同時分析 24 個元素析 ◆◆儀器基本配置 ◆信噪比增強器 ◆自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品 ◆獨特的光路增強系統，方便用戶更好地觀察樣品 ◆測量 RoHS，電鍍鍍層，全元素分析，一機多用 ◆電制冷硅針半導體探測器，摒棄液氮制冷 ◆特別開發的測量軟件，操作界面十分友好 ◆內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時檢測樣品 ◆精準的移動平臺，更精確方便地調節樣品位置 ◆高貴時尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊 ◆樣品腔尺寸：605mm＊395＊70mm

EDX6600能量色散X熒光光譜儀 ◆◆技術指標: ◆測量精度：0.05% ◆分析范圍：1PPM~99.99% ◆測試鍍層最薄至0.005um ◆測量元素：從硫至鈾等75多種元素 ◆測量對象：粉末、固體、液體 ◆工作溫度：15－－-30℃ ◆相對濕度：< 70% ◆重 量：30公斤 ◆電 源：AC 110V/220V ◆測量時間：60~300秒 ◆◆儀器配置： ◆單樣品腔 ◆計算機、噴墨打印機 ◆硅針半導體探測器 ◆放大電路 ◆高低壓電源 ◆X光管

EDX3600L能量色散X熒光光譜儀 ◆◆技術指標: ◆分析范圍: 1PPM-99.99% ◆同時分析: 幾十種元素同時分析 ◆測鍍層厚度精確至0.01微米 ◆測量對象: 固體、粉未、液體 ◆測量時間: 60-300 秒 ◆測量精度 : 0.05% ◆分析元素: Na-U ◆工作溫度: 15-26℃ ◆相對濕度: ≤70% ◆重量 : 80KG ◆功耗: 200瓦 ◆◆儀器配置： ◆單樣品腔 ◆計算機、噴墨打印機 ◆真空泵（可選） ◆壓片機（可選） ◆硅針半導體探測器 ◆放大電路 ◆高低壓電源 ◆X光管

EDX3600能量色散X熒光光譜儀 ◆◆技術指標: ◆分析范圍: 1PPM-99.99% ◆同時分析: 幾十種元素同時分析 ◆測鍍層厚度精確至0.005微米 ◆測量對象: 固體、粉未、液體 ◆測量時間: 60-300 秒 ◆測量精度 : 0.05% ◆分析元素: Na-U ◆工作溫度: 15-26℃ ◆相對濕度: ≤70% ◆重量 : 80KG ◆功耗: 200瓦 ◆◆儀 器 配 置： ◆多樣自動進樣系統 ◆計算機、噴墨打印機 ◆真空泵（可選） ◆壓片機（可選） ◆硅針半導體探測器 ◆放大電路 ◆高低壓電源 ◆X光管

EDX3000能量色散X熒光光譜儀 ◆◆技術指標: ◆分析范圍：1PPM~99.99% ◆測量元素：從硫至鈾等75種元素 ◆測量對象：粉末、固體、液體 ◆工作溫度：15－－-30℃ ◆重 量：30Kg ◆電源：AC 110V/220V ◆測量時間：60~300秒 ◆測量精度：0.05% ◆◆儀器 配 置： ◆單樣品腔 ◆計算機、噴墨打印機 ◆硅針半導體探測器 ◆放大電路 ◆高低壓電源 ◆X光管 無真空腔體

EDX600能量色散X熒光光譜儀 ◆◆技術指標: ◆分析范圍 :1PPM－－-99.99% ◆測量時間 :60－－-300 秒 ◆分析精度 :0.1%－－-99.99% ◆測量范圍 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt ◆測鍍層厚度、精度：0.03um ◆重 量 :30KG ◆尺 寸 :350＊500＊400mm ◆X射線源 :X射線光管。 ◆探測器 :正比計數管 ◆◆儀器配置: ◆單樣品腔 ◆正比計數器 ◆放大電路 ◆高低壓電源 ◆X光管

EDX3000B能量色散X熒光光譜儀 ◆針對RoHS檢測設計開發 ◆測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳 ◆分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ◆也可以測量鍍層厚度 ◆◆ROHS指令檢測主要技術指標 ◆分析精度：0.05% ◆樣品室尺寸：1000＊1000＊300MM ◆測量時間：60-300秒 ◆工作電源：220U±5U ◆高 壓：15-50KV ◆管 流：600μA ◆計數率：1300-8000Cps ◆ ROHS指令有害元素儀檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br為1PPM ◆檢測時間為200秒 ◆電致冷硅針半導體探測器 ◆加強金屬元素感度分析 ◆◆儀器基本配置 ◆單樣品腔 ◆計算機、噴墨打印機 ◆硅針半導體探測器 ◆硅針半導體探測器 ◆放大電路 ◆高低壓電源 ◆X光管 ◆無真空腔體